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Qua Nix 4200/4500 涂层测厚仪
本仪器用于精确测量涂层（镀层）厚度。测量时只需用调零，无需校准。
主要技术参数
1． 测量范围：0-3000μm
2． 测量精度：0-50μm≤±1μm 50-1000μm≤±1.5%
1000-2000μm≤±2% 2000-3000μm≤±3%
3． 外形尺寸：100×60×27mm
测厚仪
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详细信息 Qua Nix 4200/4500 涂层测厚仪
本仪器用于精确测量涂层（镀层）厚度。测量时只需用调零，无需校准。 主要技术参数 1． 测量范围：0-3000μm 2． 测量精度：0-50μm≤±1μm 50-1000μm≤±1.5% 1000-2000μm≤±2% 2000-3000μm≤±3% 3． 外形尺寸：100×60×27mm |